Detail Katalog| Judul | : APPLIED MEASUREMENT WITH jMETRIK |
| Edisi | : |
| No. Panggil/Lokasi | : |
| ISBN/ISSN | : 978-0-203-11519-0 |
| Klasifikasi | : |
| Pengarang | : J. Patrick Meyer
|
| Tempat Terbit | : Routledge |
| Tahun Terbit | : 2014 |
| Deskripsi Fisik | : |
| Gambar Sampul | :
 |
| Lampiran | : |
| Ketersediaan | : 1 x |
| Kembali ke sebelumnya | |
